簡要描述:芯片高低溫測試儀技術參數(shù):1、溫度范圍:A:0℃~150℃;B:-20℃~150℃;C:-40℃~150℃;D:-70℃~150℃2、濕度范圍:20~98% RH(請參考愛佩提供的標準行業(yè)溫濕度分布范圍圖設定使用)3、波動/均勻度:≤±0.5℃ /±2℃
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品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區(qū)間 | 1萬-2萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 電子,印刷包裝 |
芯片高低溫測試儀技術參數(shù):
1、溫度范圍:A:0℃~150℃;B:-20℃~150℃;C:-40℃~150℃;D:-70℃~150℃
2、濕度范圍:20~98% RH(請參考愛佩提供的標準行業(yè)溫濕度分布范圍圖設定使用)
3、波動/均勻度:≤±0.5℃ /±2℃
4、溫度偏差:+2%、-3%RH
5、升溫時間:-20℃~150℃約35min -40℃~150℃約45min -70℃~150℃約55min
6、降溫時間:25℃~0℃約30min;25℃~20℃約40min;25℃~40℃約60min;25℃~70℃約90min
特點:
1、全新完美的造型設計,外觀高質感水準;
2、玻璃視窗配高亮度熒光燈,讓使用者隨時可觀察試驗箱內的狀況;
3、采用全毛細管,自動負載容量調整系統(tǒng)技術;
4、利用多翼式送風機強力送風循環(huán),避免任何死角,使室內溫濕度分布均勻;
5、低噪音設計,可連接電腦;
6、可循環(huán)編程控制。
芯片高低溫測試儀設備滿足標準:
1. GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術條件;
2.GB/T10586-1989 濕熱試驗箱技術條件;
3.GB/T10592-1989 高低溫試驗箱技術條件;
4.GB2423.1-89 低溫試驗 Aa,Ab ;
5.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗 Ca;
6.GJB150.9-8 濕熱試驗;
7.GB2423.34-86、MIL-STD883C 方法 1004.2 溫濕度組合循環(huán)試驗;
8.IEC68-2-2 試驗 B 高低溫交變等;
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