溫度老化試驗(yàn)箱

簡(jiǎn)要描述：溫度老化試驗(yàn)箱是一款主要以高溫、低溫為主要測(cè)試功能的設(shè)備。隨著時(shí)代的發(fā)展，各種高科技產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代，為了防止不合格的生產(chǎn)產(chǎn)品發(fā)行到市場(chǎng)。模擬現(xiàn)實(shí)環(huán)境溫度的檢測(cè)設(shè)備的使用就很有必要了，它能有效減少不符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或不符合環(huán)境溫差的產(chǎn)品流入市場(chǎng)。

產(chǎn)品型號(hào)AP-GD
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
更新時(shí)間2024-11-03
訪(fǎng) 問(wèn) 量2400

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高低溫試驗(yàn)室

步入式高低溫濕熱試驗(yàn)房電子產(chǎn)品老化箱高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)備冷凍箱老化箱溫度變化的儀器恒溫機(jī) 冷熱循環(huán)測(cè)試箱恒溫老化試驗(yàn)箱交變溫度檢測(cè)設(shè)備高低溫老化試驗(yàn)箱溫度低溫箱實(shí)驗(yàn)溫箱大型高低溫試驗(yàn)室房高低溫測(cè)試機(jī) 恒定濕熱試驗(yàn)箱低溫試驗(yàn)箱高低溫交變?cè)囼?yàn)箱高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱深圳高低溫濕熱箱高低溫交變循環(huán)試驗(yàn)箱可程式高低溫試驗(yàn)箱

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詳細(xì)介紹

品牌	愛(ài)佩科技/A-PKJ	價(jià)格區(qū)間	1萬(wàn)-2萬(wàn)
產(chǎn)地類(lèi)別	國(guó)產(chǎn)

溫度老化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
1、內(nèi)箱外箱材質(zhì)：不銹鋼發(fā)紋板
2、外箱材質(zhì)：防腐蝕不銹鋼板噴塑
3、溫度調(diào)節(jié)范圍：-70℃,-40℃,-20℃,0℃~150℃(溫度范圍可選)
4、溫度精度：≤±0.2℃
5、溫度分辨率：≤±0.01℃
6、溫度上升時(shí)間：+25℃→+100℃：≤25min（空載）
7、溫度下降時(shí)間：+25℃→-40℃：≤60min（空載）
電路控制系統(tǒng)
1、進(jìn)口數(shù)顯觸摸按鍵，PID微電腦SSR溫度控制器（RKC儀表）；
2、精度：0.1℃(顯示范圍)
3、解析度：0.1℃；
4、感溫傳感器：PT100鉑金電阻測(cè)溫體；
5、控制方式：熱平衡調(diào)溫調(diào)濕方式；所有電器均采用（施耐德）系列產(chǎn)品
6、溫度控制采用P . I . D＋S.S.R系統(tǒng)同頻道協(xié)調(diào)控制
7、具有自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定
8、控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇，實(shí)時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)曲線(xiàn)圖可由屏幕顯示
9、具有RS-232或RS-485遠(yuǎn)程通訊界面，可在電腦上設(shè)計(jì)程式，監(jiān)視試驗(yàn)過(guò)程并執(zhí)行自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)等功能
10、控制器具有熒屏自動(dòng)屏保功能，在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行狀態(tài)下更好的保護(hù)液晶屏（使其壽命更長(zhǎng)久）
11、本試驗(yàn)箱回風(fēng)口具有自動(dòng)除霜裝置（這樣才能使試驗(yàn)時(shí)產(chǎn)生的水蒸氣不會(huì)聚集在制冷蒸發(fā)器上，產(chǎn)生冰堵現(xiàn)象）
制冷系統(tǒng)控制
1、壓縮機(jī)：全封閉泰康1.5HP21組
2、制冷方式：復(fù)疊式制冷
3、冷凝方式：強(qiáng)制風(fēng)冷冷卻
4、制冷劑：R404A、R23（環(huán)保型）
5、系統(tǒng)管路均作通氣加壓48H撿漏測(cè)試.
6、加溫、降溫系統(tǒng)*獨(dú)立
7、內(nèi)螺旋式冷媒銅管
8、斜率式蒸發(fā)器
9、干燥過(guò)濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進(jìn)口原裝件
10、除濕系統(tǒng)：采用蒸發(fā)器盤(pán)管露點(diǎn)溫度層流接觸除濕方式
11、降溫時(shí)啟動(dòng)R404A 、R23，除濕時(shí)只啟動(dòng)R404A（節(jié)能降耗）
溫度老化試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

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