簡(jiǎn)要描述:元器件熱沖擊試驗(yàn)箱適用于質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)室,確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應(yīng)性,又可滿足生產(chǎn)過(guò)程中篩選商用產(chǎn)品。適用的對(duì)象包括金屬,塑料,橡膠,電子、LED、LCD、通訊組件、汽車配件、化學(xué)材料、航天、國(guó)防工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料等行業(yè),可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 愛(ài)佩科技/A-PKJ | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
元器件熱沖擊試驗(yàn)箱適用于質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)室,確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應(yīng)性,又可滿足生產(chǎn)過(guò)程中篩選商用產(chǎn)品。適用的對(duì)象包括金屬,塑料,橡膠,電子、LED、LCD、通訊組件、汽車配件、化學(xué)材料、航天、國(guó)防工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料等行業(yè),可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
元器件熱沖擊試驗(yàn)箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
.GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)
·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)
·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
主要技術(shù):
型號(hào)尺寸:(除了以下標(biāo)準(zhǔn)尺寸我司還可為大家定制非標(biāo)尺寸)
AP-CJ-50A/B/C內(nèi)箱尺寸:350×350×400外箱尺寸:1560×1750×1440
AP-CJ-80A/B/C內(nèi)箱尺寸:500×400×400外箱尺寸:1700×1800×1440
AP-CJ-100A/B/C內(nèi)箱尺寸:600×400×400外箱尺寸:1800×1800×1440
AP-CJ-150A/B/C內(nèi)箱尺寸:600×500×500外箱尺寸:1800×1900×1540
AP-CJ-250A/B/C內(nèi)箱尺寸:700×600×600外箱尺寸:1900×2000×1640
AP-CJ-480A/B/C內(nèi)箱尺寸:800×800×750外箱尺寸:2020×2250×2150
試驗(yàn)溫度范圍:A表示:-40℃~+150℃
B表示:-55℃~+150℃
C表示:-65℃~+150℃
溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
溫度均勻度: ±2.0℃
溫度均勻:±2℃;
升溫速率:≤5℃/min; (全程平均)
降溫速率:≤5℃/min;; (全程平均)
預(yù)冷下限溫度:≤-50℃;
控制器:進(jìn)口LED數(shù)顯(P.I.D + S.S.R.)微電腦集成控制器
精度范圍:設(shè)定精度:溫度±0.1℃,指示精度:溫度±0.1℃,解析度:±0.1℃
制冷系統(tǒng):進(jìn)口谷輪半封閉水冷式壓縮機(jī)組/原裝“泰康”全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷
循環(huán)系統(tǒng):耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
用歐美外觀質(zhì)感高水準(zhǔn),全系列愛(ài)佩7寸大屏真彩觸摸屏控制器,操作簡(jiǎn)單,程序直觀,還可單獨(dú)做高溫、低溫試驗(yàn)。更多參數(shù)請(qǐng)業(yè)務(wù)曹()為您服務(wù)。
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